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2025-03-21
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+2024-10-23
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GWST-1000型高溫四探針綜合測試系統（包含薄膜，塊體功能）是為了更方便的研究在高溫條件下的半導體的導電性能，該系統可以*實現在高溫、真空及惰性氣氛條件下測量硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率和外延層、擴散層和離子層的方塊電阻及測量其他方塊電阻。
HTRS-1000型高溫半導體材料電阻率測試儀主要用于半導體材料導電性能的評估和測試，該系統采用四線電阻法測量原理進行設計開發，可以在高溫、真空氣氛的條件下測量半導體材料電阻和電阻率，可以分析被測樣品電阻和電阻率隨溫度、時間變化的曲線。目前主要針對圓片、方塊、長條等測試樣品進行測試，可以廣泛用于半導體材料硅（si）、鍺（ge）,化合物半導體材料砷化鎵（GaAs）、銻化銦（InSb），三元化合物半導
PRPM-1000熱釋電系數高溫測試系統 關鍵詞：熱釋電，激光，紅外 熱釋電材料目前主要用于紅外、激光等熱釋電探測領域,也廣泛地使用在各類輻射計,光譜儀,以及紅外、激光探測器等方面。而熱釋電系數是測定紅外探測器工作特性的主要參數之一。PRPM-1000熱釋電系數高溫測試系統采用高精度進口的設備采集分析數據，對熱釋電系數能夠準確的測試.
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