HTIM-600高溫電阻率測試儀是一款針對于材料的測量設備，可以出具CNAS整體認證的專業材料高溫測量設備，該儀器采用使用方法多樣化，最大2000V，最快6.4ms的采集系統，實現了是以往產品300倍的抗干擾功能最快6.4ms的高速測量，作為皮安表使用進行低電容檢查，最高2×10^19 Ω顯示，最小0.1fA分辨率標配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB，自行設計的懸浮式電路，

HTIM-3高低溫材料電阻率測試儀主要用于半導體材料導電性能的評估和測試，該系統采用四線電阻法測量原理進行設計開發，可以在高溫、真空氣氛的條件下測量半導體材料電阻和電阻率，可以分析被測樣品電阻和電阻率隨溫度、時間變化的曲線。目前主要針對圓片、方塊、長條等測試樣品進行測試，可以廣泛用于半導體材料硅（si）、鍺（ge）,化合物半導體材料砷化鎵(GaAs)、銻化銦（InSb），三元化合物半導體GaAsA

GWJDN-4型四通道同屏高溫介電溫譜測量系統運用三電極法設計原理測量，并參考美國A.S.T.M 標準,采用Labview系統開發具備彈性的自定義功能，可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數等設置，符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。高低溫介電溫譜測量系統(-190℃-1000℃）電壓、過電流、超溫等異常情況以保證測試過程的安全。

四通道同屏對比測試高溫介電溫譜測量系統運用三電極法設計原理測量，并參考美國 A.S.T.M 標準。采用Labview系統開發具備彈性的自定義功能，可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數等設置，符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。

TDNX-1200型金屬高溫電阻測量儀是一款專門針對于任意大小形狀及尺寸的金屬材料電阻測試高溫系統，常見的不銹鋼、鍍鋅鋼、銅合金、鎳合金等金屬材料均可測試。設備采用高精度的儀表，電阻精度量精確到 1uΩ，配備高精度標準電阻，數據溯源美國國家標準與技術研究院數據。是目前研究金屬材料高溫電阻變化的重要設備。 一、主要功能：

JTFS-3000型變溫焦耳熱閃蒸系統是將焦耳熱閃蒸技術與冷熱臺相結合的極寬溫域、超快速度材料合成和調控系統，可有效調控合成材料的微觀形貌和結構。我們提供常溫的焦耳熱閃蒸系統，同時提供變溫下的焦耳熱閃蒸系統，方便了科研和教學工作。 二、產品主要用途：JTFS-3000型變溫焦耳熱閃蒸系統能夠提供大電壓、大電流、高溫和高能量輸出、高的升溫速率和冷卻速率、過冷度等，可在條件下超快合成和調控納米材料。