描述：JK-SEM1900型原位冷熱臺是一種在掃描電子顯微鏡（SEM）標準樣品臺上（無需改造電鏡內部），提供樣品原位變溫測試的電鏡附件。通過外接法蘭裝置實現對冷熱臺上的樣品進行控溫，穩定后溫控精度最高可達±0.1℃ 可實現樣品變溫測試的溫度范圍：-185~50℃ / -185~200℃，滿足原位高低溫材料相變微觀表征。SEM原位冷熱臺適合于各種樣品在掃描電子顯微鏡中進行高低溫結構研究，固定在現有樣品臺上

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