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    型號(hào):
    中科院上微所JKZC-LRT400冷熱臺(tái)成功交付

    描述:中科院上海微系統(tǒng)所定制JKZC-LRT400冷熱臺(tái)成功交付


    中國科學(xué)院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所是我國著名的技術(shù)學(xué)科綜合性研究所之一,前身是成立于1928年的國立中央研究院工程研究所。自建國以來,上海微系統(tǒng)所已獲得獎(jiǎng)勵(lì)46項(xiàng)、部委省級獎(jiǎng)勵(lì)340余項(xiàng)。為國民經(jīng)濟(jì)發(fā)展、國家安全和社會(huì)進(jìn)步做出了重大貢獻(xiàn)。

    本次交付的產(chǎn)品為探針冷熱臺(tái)JKZC-LRT400,該冷熱臺(tái)在實(shí)驗(yàn)中主要用于高阻材料在不同溫度

    • 廠商性質(zhì)

      生產(chǎn)廠家
    • 更新時(shí)間

      2025-04-22
    • 訪問量

      358
    詳細(xì)介紹
    品牌Microtrac/拜爾產(chǎn)地類別國產(chǎn)
    應(yīng)用領(lǐng)域地礦,能源,電子/電池,道路/軌道/船舶,電氣

    中科院上海微系統(tǒng)所定制JKZC-LRT400冷熱臺(tái)成功交付

    中國科學(xué)院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所是我國著名的技術(shù)學(xué)科綜合性研究所之一,前身是成立于1928年的國立中央研究院工程研究所。自建國以來,上海微系統(tǒng)所已獲得獎(jiǎng)勵(lì)46項(xiàng)、部委省級獎(jiǎng)勵(lì)340余項(xiàng)。為國民經(jīng)濟(jì)發(fā)展、國家安全和社會(huì)進(jìn)步做出了重大貢獻(xiàn)。

    本次交付的產(chǎn)品為探針冷熱臺(tái)JKZC-LRT400,該冷熱臺(tái)在實(shí)驗(yàn)中主要用于高阻材料在不同溫度變化下的電學(xué)測試。

    中科院上微所JKZC-LRT400冷熱臺(tái)成功交付

       現(xiàn)場交付圖


    能提供從-190℃到600℃溫度范圍內(nèi)的精準(zhǔn)控制。

    中科院上微所JKZC-LRT400冷熱臺(tái)成功交付

       現(xiàn)場實(shí)驗(yàn)測試變溫電阻測試數(shù)據(jù)(二)

    測試樣品為高阻材料,實(shí)驗(yàn)顯示隨溫度升高,材料電阻在高溫下驟降。在本次交付中,針對客戶需求,對配套軟件進(jìn)行了定制。


    中科院上微所JKZC-LRT400冷熱臺(tái)成功交付

    包含兩種測試模式:

    ①RT測試:樣品電阻隨溫度變化;

    ②數(shù)據(jù)時(shí)間譜測試:到達(dá)設(shè)定溫度后,樣品電阻隨時(shí)間變化。

    一|、冷熱臺(tái)主要技術(shù)參數(shù):

    溫度范圍-196到600°C(-196℃需選擇專用冷卻系統(tǒng))

    可達(dá)150°C/min加熱速率

    多段溫度控制程序設(shè)定

    在線溫度/時(shí)間曲線

    全程溫度穩(wěn)定性和精度0.1°C

    16 mm X、Y方向移動(dòng)距離

    樣品區(qū)域φ22 mm

    光孔直徑 2.0mm                

    氣密樣品室,可以控制樣品環(huán)境   

    超薄上蓋窗口 0.17 mm

    可用于透射和反射光

    內(nèi)蓋可以增加溫度穩(wěn)定性

    樣品側(cè)面導(dǎo)入

    物鏡最小工作距離4.5 mm

    聚光鏡最小工作距離12.5 mm

    計(jì)算機(jī)控制

    冷卻劑直接冷卻加熱體

    臺(tái)體尺寸- 160 x 80 x 24 mm

    二、電阻主要技術(shù)參數(shù):

     

    • 電流分辨率達(dá)0.1fA(10-16A)

    • 測量電阻高達(dá)10PΩ(1016Ω)

    • 輸入阻抗>200TΩ

    • 支持電壓測量達(dá)20V

    • 獨(dú)立的電流和電壓測量

    • 5.0寸電容式觸摸屏

    • 6?位測量分辨率

    • 內(nèi)置電壓源:±1000V,分辨率:700μV

    • 溫度和濕度測量

    • 時(shí)域視圖,捕獲瞬態(tài)信號(hào)效應(yīng)和選擇測量數(shù)據(jù)

    • 支持?jǐn)?shù)據(jù)記錄

    • 配置專用屏蔽測試盒

    • 接口:USB HOST、USB DEVICE、LAN、GPIB、RS232、HANDLER、INTERLOCK



     主要測量應(yīng)用


    變溫條件下針對

    • 應(yīng)用


      • 材料特征測試

        半導(dǎo)體、納米材料、聚合物材料、介質(zhì)材料、電化學(xué)材料、鐵電材料、石墨烯、陶瓷、生物材料、橡膠、薄膜、金屬、有機(jī)材料等

      • 電子元器件泄漏電流和絕緣電阻測試

        電容器、電阻器、二極管、晶體管、傳感器、TFT和CNT等類型、光電器件、納米器件、太陽能電池、開關(guān)、繼電器等

      • 電子/非電子系統(tǒng)

        離子束、電子束、傳感系統(tǒng)、粒子測量、嵌入式精密儀器等

      • 半導(dǎo)體和其它器件I-V特性測量

      • 體電阻/表面電阻率測量




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