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    型號:FE-5000
    精科智創(chuàng)PVDF薄膜材料鐵電測試儀

    描述:本測試系統(tǒng)由主控器、高壓放大器、變溫綜合測試平臺(配鐵電測試盒)或高低溫探針臺(配高壓探針)、計算機及系統(tǒng)軟件部分組成。主控器集成了可編程波形發(fā)生器、內(nèi)置驅(qū)動電壓、電荷積分器、可編程放大器、模數(shù)轉(zhuǎn)換器、通訊總線等功能,主控器提供擴展外置高壓放大器接口,可擴展&#177;5 kV或&#177;10 kV的高壓放大器。系統(tǒng)軟件包括可視化數(shù)據(jù)采集和管理功能,測試時,無需改變測試樣品的連接,即可實現(xiàn)滯回,脈沖,漏電,IV等性

    • 廠商性質(zhì)

      生產(chǎn)廠家
    • 更新時間

      2025-04-22
    • 訪問量

      171
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    品牌Microtrac/拜爾產(chǎn)地類別國產(chǎn)
    應(yīng)用領(lǐng)域能源,電子/電池,鋼鐵/金屬,航空航天,電氣

    FE-5000型鐵電薄膜測試儀


    精科智創(chuàng)PVDF薄膜材料鐵電測試儀

       FE-5000W型電致應(yīng)變鐵電測試儀是一款高量程款的鐵電性能材料測試裝置,這款設(shè)備可以適用于鐵電薄膜、鐵電體材料(既可塊體材料)的電性能測量,可測量鐵電薄膜電滯回線、可測出具有非對稱電滯回線鐵電薄膜值。可以進行電致應(yīng)變測試,可以蝴蝶曲線功能,設(shè)備還可以擴展高溫電阻,高溫介電,電容-電壓曲線,TSC/TSDC等功能。本儀器是從事壓電材料及壓電元件生產(chǎn)、應(yīng)用與研究部門的重要設(shè)備之一,已經(jīng)在各大高校和科研院所廣泛使用。

    二、主要技術(shù)指標(biāo):

    1、輸出信號電壓::±5000V(可擴展10 kV,可擴展電致應(yīng)蝴蝶曲線功能

    2、溫度;室溫-200℃,控溫精度:±1

    3、控制施加頻率0.01250KHz(陶瓷、單晶,薄膜)PC端軟件控制自定義設(shè)置;

    4、控制輸出電流0到±50mA連續(xù)可調(diào),PC端軟件控制自定義設(shè)置。

    5、動態(tài)電滯回線測試頻率范圍 0.01Hz-5kHz

    7、最小脈寬保持時間為20us;最小上升沿時間為10us;

    8、疲勞測試頻率500kHz(振幅10 Vpp,負(fù)載電容1 nF);使用高壓放大器后疲勞頻率最高5kHz;

    9測試速度:測量時間《5/樣品•溫度點   

    10、樣品規(guī)格:塊體材料尺寸:直徑2-100mm,厚度0.1-10mm

    11主要功能: 動態(tài)電滯回線DHM,靜態(tài)電滯回線SHMI-V特性,脈沖PUND,疲勞Fatigue,電擊穿強度BDM,漏電流LM,電流-偏壓,保持力RM

    10. 電荷解析度不小于10 mC;

    漏電流測量范圍:1pA~ 20 mA,分辨率不低于0.1pA;

    12、控制方式:計算機實時控制、實時顯示、實時數(shù)據(jù)計算、分析與存儲

    13、軟件采集:自動采集軟件,分析可以兼容其他相關(guān)主流軟件。

    14、測試精度:±0.05%

    15、內(nèi)置電壓:±20V

     

     

    鐵電參數(shù)測試主要性能指標(biāo):

    a. 外接5 kV高壓放大器;

    b. 動態(tài)電滯回線測試頻率范圍0.01 Hz ~ 1 kHz;

    c. 最大電荷解析度:10 mC;

    d. 疲勞測試頻率300 kHz(振幅10 Vpp,負(fù)載電容1 nF);

    e. 漏電流測量范圍 1 pA ~ 20 mA,分辨率0.1 pA;

    f. 配有高壓擊穿保護模塊。

    本測試系統(tǒng)由主控器、高壓放大器、變溫綜合測試平臺(配鐵電測試盒)或高低溫探針臺(配高壓探針)、計算機及系統(tǒng)軟件部分組成。主控器集成了可編程波形發(fā)生器、內(nèi)置驅(qū)動電壓、電荷積分器、可編程放大器、模數(shù)轉(zhuǎn)換器、通訊總線等功能,主控器提供擴展外置高壓放大器接口,可擴展±5 kV或±10 kV的高壓放大器。系統(tǒng)軟件包括可視化數(shù)據(jù)采集和管理功能,測試時,無需改變測試樣品的連接,即可實現(xiàn)滯回,脈沖,漏電,IV等性能測試。

    鐵電參數(shù)測試儀/PUND測試采用改進的Sawyer- Tower測量方法,與傳統(tǒng)的Sawyer- Tower模式相比,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度,減少了對測試的影響環(huán)節(jié),容易定標(biāo)和校準(zhǔn),并且能實現(xiàn)較高的測量準(zhǔn)確度。

    該系統(tǒng)測試功能:

    動態(tài)電滯回線DHM

    I-V特性

    脈沖PUND

    疲勞Fatigue

    漏電流LM

    電流-偏壓。


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