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    型號:
    JKZC-DM系列基礎型探針臺

    描述:JKZC-DM系列探針臺是我司一款基于高校教育與實驗室而研發的基礎型晶圓測試探針臺。其結構緊湊,設計精密,價格實惠,配置靈活,高性價比。在高等院校教學和小型實驗室科研過程中得到了廣泛運用,配合對應的儀器儀表,用于測試各類器件的IV、CV、l-t、V-t,光電信號,1/f噪聲測試,器件表征測試,RF射頻等。如 果您的測試器件pad電極大于50um,此系列探針臺。

    • 廠商性質

      生產廠家
    • 更新時間

      2025-04-21
    • 訪問量

      1460
    詳細介紹
    品牌其他品牌產地類別國產
    應用領域能源,電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣

    JKZC-DM系列基礎型探針臺

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    |產品概要

    JKZC-DM系列探針臺是我司一款基于高校教育與實驗室而研發的基礎型晶圓測試探針臺。其結構緊湊,設計精密,價格實惠,配置靈活,性價比。在高等院校教學和小型實驗室科研過程中得到了廣泛運用,配合對應的儀器儀表,用于測試各類器件的IV、CV、l-tV-t,光電信號,1/f噪聲測試,器件表征測試,RF射頻等。如果您的測試器件pad電極大于50um,此系列探針臺。

    |技術特點

    •整機一體化設計,結構緊湊占地小,可放置于手套箱內使用;

    •自適應減震底座設計,可有效過濾環境中的震動源干擾;

    • U型平臺鍍鎳設計,增大針座加載空間的同時還提高了針座平臺和針座之間的吸附力。

    詳細參數


    產品型號

    技術參數

    JKZC-DM4

    JKZC-DM6

    JKZC-DM8

    探針臺臺體

    主體材料

    航空鋁

    航空鋁

    航空鋁

    整機尺寸mm)

    500L*380W*520H

    550L*420W*520H

    600L*480W*520H

    重量

    30kg

    35kg

    50kg

    自適應減震系統

    自適應減震底座設計,可有效過濾環境中的震動源干擾

    卡盤大小

    4英寸,360度轉動,可微調

    6英寸,360度轉動,可微調

    8英寸,360度轉動,可微調

    卡盤XY軸行程

    4英寸*4英寸,精度10um

    6英寸*6英寸,精度10um

    6英寸*6英寸,精度10um

    卡盤Z軸行程

    快速升降5mm,微調升降行程6mm,精度丄微米(選件)

    卡盤材質

    不銹鋼鍍金,具備更小的接觸電阻

    卡盤吸附方式

    真空吸附,可選擇環形吸附或者多孔吸附(適用于薄片)

    背電極測試功能

    卡盤鍍金,電學獨立懸空,帶24mm香蕉頭插口,具備背電極功能

    其它功能

    帶標準接地保護,可升級

    針座平臺

    材質

    U型平臺,Q235鍍療,帶接地端子

    大小

    最多可放置4個探針座

    最多可放置6個探針座

    最多可放置8個探針座

    7F系統

    顯微鏡類型

    體式顯微鏡/視頻顯微鏡+CCD成像系統

    倍率范圍

    16X~200X/40X~280X

    調焦范圍

    50.8mm

    顯微鏡移動

    顯微鏡可繞立柱360度旋轉,帶2英寸高精度顯微鏡調焦機構,帶顯示器支架

    CCD成像系統

    2k或者4K相機,幀率60fps,帶拍照/錄像/測量功能等功能

    探針座

    種類

    絲桿型/微分頭型/經濟型探針座

    X-Y-Z行程

    12.5mm-12.5mm-12.5mm

    機械精度

    0.5um/0.7um/2um

    夾具

    漏電精度

    同軸夾具10pA/三軸夾具lOOfA

    接口形式

    同軸/三軸/SMA/香蕉頭/鱷魚夾/裸線等接口

    其它

    選件

    屏蔽箱/防震桌/射頻系統/同軸/三軸加熱卡盤/顯微鏡萬向支架等

    電力需求

    220V/50HZ



    搭配產品/半導體參數分析儀我們經過近10年的發展,在測試儀器與探針臺的搭配方面具備十分 豐富的經驗。半導體參數分析儀方面,我們和是德科技(Keysight)、 泰克(Tektronix)、概倫電子(PRIMARIUS)等公司的半導體參數 分析儀有過多次搭配經驗,系列型號有Keysight B1500AKeith ley 4200A-SCS、PRIMARIUS FS-Pro等,并為用戶提供半導體參數分析 儀與探針臺集成測試方案和服務。半導體參數分析儀.jpg

    搭配產品/矢量網絡分、析儀依靠與儀器設備廠商和設備集成經銷商所保持良好的合作關系,我司 可為用戶提供是德科技(Keysight)、中電思儀(Ceyear)等公司的 網絡分析儀和模塊,有 Keysight E5063A/E5072A/E5061B/E5080B ENAKeysight(N522x/3x/4xB) PNA、Keysight N5290A/ N5291A、 Ceyear 3762A/B/C-S、Ceyear 3671C/D/E 等,各系列型號的矢量網絡 分析儀和毫米波網絡分析儀,涵蓋不同測量頻率范圍、性能和功能,并 為用戶提供網絡分析儀與探針臺集成測試方案和服務,具備豐富的測 試經驗。、

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    搭配產品/其他類型源表在其它類型源表方面,比如tek 2450, tek 2600, keysight 2900,普賽斯 S300,鐵電分析儀,各類示波器,各類電源,頻譜儀等等都有多年的搭 配經驗。

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