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    型號(hào):BKTEM-Dx
    熱電材料性能測(cè)試儀

    描述:熱電材料性能測(cè)試儀由高精度,高靈敏度溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構(gòu)成。通過(guò)PID程序控溫,采用四點(diǎn)法的方式測(cè)定半導(dǎo)體材料及熱電材料的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動(dòng)檢出。

    • 廠商性質(zhì)

      生產(chǎn)廠家
    • 更新時(shí)間

      2025-04-21
    • 訪問(wèn)量

      4217
    產(chǎn)品分類(lèi)PRODUCT

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    詳細(xì)介紹
    品牌Bigdipper/北斗星儀器應(yīng)用領(lǐng)域電子/電池,道路/軌道/船舶,鋼鐵/金屬,航空航天,電氣

    BKTEM-Dx熱電材料性能測(cè)試儀介紹:

    關(guān)鍵詞:熱電,Seebeck系數(shù),電導(dǎo)率,電阻率,n或p型熱電材料π對(duì)熱電轉(zhuǎn)換效。

    熱電材料性能測(cè)試儀

    BKTEM-Dx熱電材料性能測(cè)試儀是是其對(duì)熱電材料π對(duì)與器件的熱電轉(zhuǎn)換效率測(cè)試,用于測(cè)試、分析和研究?jī)蓚€(gè)相同或不相同的n或p型熱電材料π對(duì)的熱電轉(zhuǎn)換效率。對(duì)于熱電材料的研究,熱電性能測(cè)試的試驗(yàn)數(shù)據(jù)。BKD-Dx(x=1,2,3)系列可以地測(cè)定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率,主要原理和特點(diǎn)如下:

    該裝置由高精度,高靈敏度溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構(gòu)成。通過(guò)PID程序控溫,采用四點(diǎn)法的方式測(cè)定半導(dǎo)體材料及熱電材料的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動(dòng)檢出。

    測(cè)試原理:

    原理:

    (1)通過(guò)測(cè)量派對(duì)或器件開(kāi)路電壓和短路電流求得派對(duì)或器件的輸出功率。

    (2)采用合適尺寸的溫差電熱流量計(jì)測(cè)量通過(guò)熱電派對(duì)或器件的熱流量,其溫差電熱流量計(jì)的工作原理是:當(dāng)對(duì)溫差電制冷片通電時(shí),其一端降溫一端升溫,降溫端朝向熱電材料的冷端,升溫端連接恒溫的冷卻水(恒溫),利用經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)的通過(guò)熱量計(jì)的高低溫端工作溫度--制冷量關(guān)系方程式求出不同溫度梯度下流經(jīng)溫差電熱流計(jì)的熱流量,即為通過(guò)派對(duì)或器件的熱流。

    (3)大輸出功率與通過(guò)的熱流相比求得轉(zhuǎn)換效率。

    適用范圍:

    1、碲化鉍類(lèi)、碲化鉛類(lèi)、碲化鍺類(lèi)、方鈷礦類(lèi)、電子晶體-聲子玻璃類(lèi)、納米超晶格類(lèi)、功能梯度類(lèi)、Half-Heusler類(lèi)熱電材料π對(duì)與器件的熱電轉(zhuǎn)換效率測(cè)試,用于測(cè)試、分析和研究?jī)蓚€(gè)相同或不相同的n或p型熱電材料π對(duì)的熱電轉(zhuǎn)換效率。

    2、地測(cè)定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。

    3、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動(dòng)檢出。

    4、擁有自身分析軟件,獨(dú)立分析,過(guò)程自動(dòng)控制,界面友好。

    技術(shù)特點(diǎn):

    解決高溫下溫控精度不準(zhǔn)的問(wèn)題,靜態(tài)法測(cè)量更加直觀的了解產(chǎn)品熱電材料的真正表征物理屬性。

    熱電材料π對(duì)與器件的熱電轉(zhuǎn)換效率測(cè)試,用于測(cè)試、分析和研究?jī)蓚€(gè)相同或不相同的n或p型熱電材料π對(duì)的熱電轉(zhuǎn)換效率。

    溫度檢測(cè)可采用J、K型熱電偶,降低測(cè)試成本。

    每次可測(cè)試1-3個(gè)樣品。

    采用高級(jí)數(shù)據(jù)采集技術(shù),避免電路板數(shù)據(jù)采集技術(shù)帶來(lái)的干擾誤差,可控溫場(chǎng)下同步測(cè)量賽貝克系數(shù)和電阻率。

    具備真空和Ar氣保護(hù)兩種工況選項(xiàng)。

    主要技術(shù)參數(shù):


    BKTEM-D1

    BKTEM-D2

    BKTEM-D3

    測(cè)量溫度

    室溫-600℃

    室溫-600℃

    室溫-600℃

    同時(shí)測(cè)試樣品數(shù)量

    1個(gè)

    2個(gè)

    3個(gè)

    控溫精度

    0.5K(溫度波動(dòng):≤±0.1℃)

    熱流量測(cè)量

    采用溫差電熱流計(jì)測(cè)量流經(jīng)試樣卻沒(méi)有被轉(zhuǎn)換的熱流

    測(cè)量原理

    塞貝克系數(shù):靜態(tài)直流電;電阻系數(shù):四端法

    測(cè)量范圍

    塞貝克系數(shù):0.5μV/K_25V/K;電阻系數(shù):0.2Ohm-2.5KOhm

    分辨率

    塞貝克系數(shù):10nV/K;電阻系數(shù):10nOhm

    測(cè)量精度

    塞貝克系數(shù):<±6%;電阻系數(shù):<±5%

    樣品尺寸

    方條形:2-3×2-3mm×10-23mm長(zhǎng)

    熱電偶導(dǎo)距

    ≥6mm

    電流

    0to160mA

    氣氛

    減壓He(具備真空和Ar氣保護(hù)兩種工況選項(xiàng),真空工況下,真空度:≤6×10-2Pa)

    加熱電極相數(shù)/電壓

    單相,220V

    熱電轉(zhuǎn)換效率輸出功率

    0.01W~10W

    夾具接觸熱阻

    ≤0.05m2K/W,夾具界面石墨或Ag化處理




    熱電材料性能測(cè)試儀

    單一樣品測(cè)試系統(tǒng)原理示意圖

    熱電材料性能測(cè)試儀

    圖2雙樣品測(cè)試系統(tǒng)原理示意圖

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