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2024-11-25
+2024-11-11
+2024-11-05
+ZJ-3型壓電測試儀(靜壓電系數d33測量儀)是為測量壓電材料的d33常數而設計的專用儀器,它可用來測量具有大壓電常數的壓電陶瓷,小壓電常數的壓電單晶及壓電高分子材料。此外,也可測量任意取向壓電單晶以及某些壓電器件的等效壓電d’33常數,儀器測量范圍寬,分辨率細,可靠性高,操作簡單,對試樣大小及形狀無特殊要求,圓片、圓環、圓管、方塊、長條、柱形及半球殼等均可測量,測量結果和極性在三位半數字面板表上
當兩種不同導體構成閉合回路時,如果兩個接點的溫度不同,則兩接點間有電動勢產生,且在回路中有電流通過,即溫差電現象或塞貝克效應。 熱電材料(也稱溫差電材料(thermoelectric materials))是一種利用固體內部載流子運動,實現熱能和電能直接相互轉換的功能材料,熱電效應是電流引起的可逆熱效應和溫差引起的電效應的總稱,包括塞貝克(Seebeck)效應、波爾貼(Peltier)效應和湯姆
GDPT-900A型變溫壓電d33測量系統是我院研制的即可低溫測試D33系數,又可以高溫測試D33系數。主要是針對高低溫壓電陶瓷材料和薄膜材料的測試。 二、主要應用領域:無損檢測超聲檢測,醫療超聲檢測,航空航天,石油天然器,汽車物聯網,,工業
d33測量范圍: ×1擋:10到2000pC/N,20 至4000pC/N,可以升級到10000PC/N. ×0.1擋: 1到200pC/N,2 至400pC/N。 可以配套PZT-JH10/4/8/12型壓電極化裝置使用 可以配套ZJ-D33-YP15壓電壓片機使用 誤差:×1擋:±2%±1個數字,當d33在100到4000pC/N; *計量標定標準樣尺寸:18mm*0.8mm,
TZTFE-2000薄膜鐵電測試儀是一款應用于薄膜材料的鐵電性能測試的設備,該設備具有動態電滯回線(DHM)、I-V特性、脈沖(PUND)、靜態電滯回線(SHM)、疲勞(FM)、漏電流(LM)、電流-偏壓、保持力(RM)、印跡(IM)的測試功能.,可廣泛地應用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執行器/存儲器等領域的研究。
關于近代物理學所擴展新實驗設備(ZJ-3壓電,TDZT-04C鐵電,DLT-01 Dielectric tester型介電測試儀) 近代物理實驗室現有實驗室面積約800平方米,總資產達1200多萬元,涉及原子物理、原子核物理、固體物理、凝聚態物理、磁學、光學、真空技術、當代新興物理實驗技術等領域的綜合設計性項目30個,為學生開設80學時的必修課程。另有微結構材料設計與性能模擬平臺一個,用于進行虛